Q Luo, C Leyens, P Eh Hovsepian, D B Lewis, C P Constable and W-D Münz,PVD TiAlCrYN涂层的氧化机理电子显微镜与分析2001,会议系列第168号,编辑M. Aindow和C.J. Kiely,物理研究所,ISBN 0 7503 0812 5, 369-372。
问:罗,P.Eh。Hovsepian,D.B.Lewis, W.-D. Münz,CrN/NbN多层涂层的显微组织及氧化机理的透射电镜研究,在材料研究所高温材料定量显微镜, 2001年。高温材料显微组织,ISSN 1366-5510, A.Strang, J. Cawley, 241-256。